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ST5680直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀詳細(xì)介紹：
ST5680直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀是向測(cè)試對(duì)象輸出高電壓，測(cè)試絕緣性能的測(cè)試儀。可以對(duì)從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對(duì)象進(jìn)行**測(cè)試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測(cè)試。ST5680實(shí)現(xiàn)了*小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測(cè)量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
為電池的**測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)
●
準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
●
通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
●
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
●
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)
●
支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。
ST5680是能夠基于各種**標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
基本參數(shù)（精度保證時(shí)間1年）
| 主要功能 |
直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能”表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、GFI、自動(dòng)放電、消除偏移、測(cè)試中改變?cè)O(shè)定電壓、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露） |
| 適合標(biāo)準(zhǔn) |
**性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
|
功耗 |
約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。 |
|
*大額定功率 |
800 VA |
|
接口 |
通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲(chǔ)：U盤 |
|
尺寸·重量 |
305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
|
附件 |
電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南 |
各測(cè)試·功能
| 直流耐壓測(cè)試 |
輸出電壓：DC 0.010 kV ～ 8.000 kV（1 V分辨率） 負(fù)載變動(dòng)：± 1％ 以下 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：100 mA max 電流精度：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. *小分辨率：0.001 μA 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以下 測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測(cè)試 |
輸出電壓：DC 10 V ～ 2000 V（1 V分辨率） 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 2 V） 電阻值顯示范圍：10.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率） 精度保證范圍：10.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測(cè)試 |
測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試 測(cè)量內(nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值 |
| 波形顯示功能 |
波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 分辨率：256 K words |
| ARC放電檢測(cè)功能 |
檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％ |
| 存儲(chǔ)功能 |
·波形·圖形
·面板保存功能
·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能 |
| 判定功能（判定輸出） |
判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） |
絕緣電阻測(cè)量精度（精度保證測(cè)試電壓范圍：50 V ~ 2000 V）
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA |
100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ |
±(20% rdg.) *2, *3, *4 |
|---|---|---|
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA |
10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ |
±(5% rdg.) *2, *3, *4 |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA |
1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ |
±(2% rdg. + 5 dgt.) *2, *3, *4 |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA |
100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ |
±(1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
| 100 μA ≦ I ≦ 30 mA |
10.00 kΩ ～ 99.99 kΩ 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ |
±(1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
| 1 mA ≦ I ≦ 100 mA | 10.00 kΩ ～ 99.99 kΩ | 320W×155H×480D mm,18kg |
| 注記 |
※1：在*大額定500 VA范圍內(nèi) ※2：當(dāng)測(cè)試電壓為10 V～99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10% ※3：當(dāng)測(cè)試電壓為100 V～999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5% ※4：當(dāng)測(cè)試電壓為1000 V～2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2% |
|
